M1砝碼期間核查方法和評定原則：

1直接測量法因F2等級砝碼的*大允許誤差是M1砝碼*大允許誤差的1/3以下，可以用比M1砝碼**級的F2等級砝碼，在同*臺相應級別電子天平或機械天平上對M1砝碼進行核查，則│x1-x2│≤│MPE│，（1）式（1）中，x1為M1砝碼在天平上得到的示值；x2為F2等級砝碼在天平上得到的示值；MPE為被核查的M1砝碼的*大允許誤差。采用直接測量法對M1砝碼進行期間核查，當x1和x2相減的*值小于等于M1砝碼的*大允許誤差的*值時，可以判斷被核查的M1砝碼符合要求。

2核查標準法

2.1核查標準在F2等級砝碼由于某些原因無法使用時，可用核查標準進行M1砝碼的期間核查。核查標準應具備2個條件：

①*度等級要*，比M1砝碼**級或至少同級；

②選用的核查標準性能穩定，重復性好，且不做其他用途。因此，可以用其他狀態穩定的砝碼作為核查標準。選用的核查標準應經上級檢定機構檢定合格，且測量不確定度小于被核查砝碼的不確定度，并且應作好標記，按照有關規定堆放和使用。

2.2核查方法和評定

2.2.1確定M1砝碼示值的平均值y1盡可能在理想的環境條件下，重復用天平測量被核查的M1砝碼，測量次數n≥10，并算出其算術平均值y1。

2.2.2M1砝碼測量結果不確定度分析

1. 測量不確定度的A類評定。用貝塞爾公式法得到試驗標準偏差為S（m）=ni=Σ1（mi-m）2姨n-1，（2）式（2）中，mi為每次的測量示值；m為測量結果的算術平均值；n為測量次數。而測量結果的A類標準不確定度為uA（m）=S（m）姨n。（3）
2. 測量不確定度的B類評定。M1砝碼B類不確定度的主要來源有：

①天平分度值的分辨率引入的標準不確定度分量u1；

②電源干擾引入的標準不確定度分量u2；

③天平偏載誤差引入的標準不確定度分量u3；

④核查標準引入的標準不確定度分量u4。對砝碼測量不確定度B類評定的來源分析時，力求不遺漏、不重復。（3）合成標準不確定度。合成標準不確定度為（4）擴展不確定度評定。擴展不確定度U是由合成標準不確定度的倍數得到，即將合成標準不確定度u（cm）擴展了k倍得到，即U=ku（cm）。（5）3.2.2.3評定公式核查標準法的評定公式為│y1-y2│≤U21+U2姨ref，（6）式（6）中，y1為M1砝碼在天平上示值的平均值；y2為核查標準經上級檢定機構檢定的示值；U1為被核查砝碼的擴展不確定度，k=2；Uref為核查標準的擴展不確定度，k=2。

3比對法

3.1實驗室內比對法如果實驗室內有2臺*度等級和測量范圍相同、經過檢定合格的天平，就可以使用此方法。對被核查的M1砝碼分別在2臺天平上用直接測量法進行測量，得到z1和z2。評定公式為│z1-z2│≤│MPE│，（7）式（7）中，z1為被核查砝碼在2臺天平上測量示值的平均值；z2為F2等級砝碼在2臺天平上測量示值的平均值。實驗室內比對法可以消除由于天平的問題而造成錯誤判斷。3.3.2實驗室間比對法與其他實驗室之間的比對，同樣也可以起到期間核查的作用。通過2個或多個實驗室對砝碼進行計量性能的判別，可以消除由于本實驗室的問題而造成的誤判。（1）2個實驗室比對評定公式為│w1-w2│≤U21+U2姨2。（8）式（8）中，w1為本實驗室測量的結果；w2為比對方實驗室測量的結果；U1為本實驗室測量結果的擴展不確定度，k=2；U2為比對方實驗室測量結果的擴展不確定度，k=2。（2）多個實驗室比對評定公式為│w1-wi│≤U21+U2姨i。（9）式（9）中，w1為本實驗室測量的結果；wi為參加*有比對方實驗室測量結果的平均值；U1為本實驗室測量結果的擴展不確定度，k=2；Ui為其他比對方實驗室測量結果的擴展不確定度，k=2。